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地址:上海市浦東新區(qū)外高橋保稅區(qū)富特東三路526號5號樓311室
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菲希爾X射線測厚儀XDL

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菲希爾X射線測厚儀XDL的詳細資料：

ISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。

菲希爾X射線測厚儀XDL 比例接收器能實現(xiàn)計數(shù)率

由于采用了FISCHER基本參數(shù)法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。

通用規(guī)格
設(shè)計用途	能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀（EDXPF），用于測定鍍層和溶液分析。
元素范圍	從元素氯（17）到鈾（92）
元素范圍	配有可選的WinFTM®BASIC軟件時，可同時測定24種元素
設(shè)計理念	臺式儀器，測量門向上開啟
測量方向	由上往下
X射線源
X射線管	帶鈹窗口的鎢管
高壓	三檔：30KV，40KV，50KV
孔徑（準直器）	φ0.3mm 可選：φ0.1mm；φ0.2mm；長方形0.3mm x 0.05mm
測量點尺寸	取決于測量距離及使用的準直器大小
	實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致
	小的測量點大小約φ0.2mm

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菲希爾X射線測厚儀XDL

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