返回首頁
在線訂單
聯(lián)系我們
產(chǎn)品分類
技術(shù)文章
當(dāng)前位置：首頁 > 技術(shù)文章
菲希爾XDL230系列測厚儀射線源信息
點(diǎn)擊次數(shù)：116 更新時(shí)間：2025-04-23
德國菲希爾測厚儀 XDL230，熒光射線測厚儀，原理是基于X射線穿透材料時(shí)強(qiáng)度的衰減與被測物厚度之間的定量關(guān)系，通過測量衰減后的射線強(qiáng)度計(jì)算厚度值?。
因?yàn)槭欠墙佑|式的，所以X射線測厚儀適用于高速生產(chǎn)線（如軋鋼、薄膜制造）的實(shí)時(shí)監(jiān)測。
技術(shù)優(yōu)勢
?高適應(yīng)性?：通過調(diào)整X射線能量（如改變管電壓）可匹配不同材質(zhì)和厚度的測量需求。
?實(shí)時(shí)反饋?：與控制系統(tǒng)聯(lián)動，實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)過程中的自動厚度調(diào)整。
測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設(shè)計(jì)，由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板
